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参考图片 | 产品编号 | ((() | 数量 | ECAD | 可用数量 | (kg) | MFR | 系列 | 包裹 | 产品状态 | 安装类型 | 包装 /案例 | 基本产品编号 | 技术 | 供应商设备包 | 数据表 | Rohs状态 | (MSL) | 达到状态 | ECCN | htsus | 标准包 | 速度 | 电压-DC 反向((vr)(VR)) | 电压 -向前( -vf)(最大) @如果 | trr) | 电流 -反向泄漏 @ @ vr | 工作温度 -交界处 | 电流 -io(io) | 电容 @ vr,f |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
1N5620U | 8.5050 | ![]() | 5580 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,a | 1N5620 | 标准 | D-5A | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 800 v | 1.3 V @ 3 A | 2 µs | 500 NA @ 800 V | -65°C 〜200°C | 1a | - | ||
1N5621 | - | ![]() | 4240 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 在sic中停产 | 通过洞 | a,轴向 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 800 v | 1.6 V @ 3 A | 300 ns | 500 NA @ 800 V | -65°C〜175°C | 1a | 20pf @ 12v,1MHz | |||
1N5621US | 8.3850 | ![]() | 1161 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,a | 1N5621 | 标准 | D-5A | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 800 v | 1.6 V @ 3 A | 300 ns | 500 NA @ 800 V | -65°C〜175°C | 1a | 20pf @ 12v,1MHz | ||
1N485A | 4.2150 | ![]() | 8950 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | do-204aa,do-7,轴向 | 1N485 | 标准 | do-7 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 180 v | 1 V @ 100 ma | 25 na @ 180 V | -65°C〜175°C | 100mA | - | |||
1N4946 | 6.2400 | ![]() | 6320 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | a,轴向 | 1N4946 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 600 v | 1.3 V @ 1 A | 250 ns | 1 µA @ 600 V | -65°C〜175°C | 1a | 25pf @ 12V,1MHz | ||
![]() | 1N5181 | - | ![]() | 9473 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 在sic中停产 | 通过洞 | S,轴向 | 标准 | S,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 4000 v | 10 V @ 100 ma | 5 µA @ 4000 V | -65°C〜175°C | 100mA | - | |||
![]() | 1N5182 | - | ![]() | 9094 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 在sic中停产 | 通过洞 | S,轴向 | 标准 | S,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 5000 v | 10 V @ 100 ma | 5 µA @ 5000 V | -65°C〜175°C | 100mA | - | |||
![]() | 1N5187 | 8.1000 | ![]() | 1526年 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | B,轴向 | 1N5187 | 标准 | B,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 200 v | 1.5 V @ 9 A | 200 ns | 2 µA @ 200 V | -65°C〜175°C | 3a | - | |
![]() | 1N5187US | 9.2550 | ![]() | 3555 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | B,轴向 | 1N5187 | 标准 | B,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 200 v | 1.5 V @ 9 A | 200 ns | 2 µA @ 200 V | -65°C〜175°C | 3a | - | |
![]() | 1N5189 | 8.1000 | ![]() | 5135 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | B,轴向 | 1N5189 | 标准 | B,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 500 v | 1.5 V @ 9 A | 300 ns | 2 µA @ 500 V | -65°C〜175°C | 3a | - | |
1N5189US | 9.2550 | ![]() | 2525 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,E | 1N5189 | 标准 | D-5B | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 500 v | 1.5 V @ 9 A | 300 ns | 2 µA @ 500 V | -65°C〜175°C | 3a | - | ||
![]() | 1N5195UR | 8.1000 | ![]() | 4718 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | DO-213AA() | 1N5195 | 标准 | do-213aa | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 180 v | 1 V @ 100 ma | 25 na @ 180 V | -65°C〜175°C | 200mA | - | ||
1N3070UR-1 | 7.0200 | ![]() | 5053 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | do-204aa,do-7,轴向 | 1N3070 | 标准 | do-7 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 175 v | 1 V @ 100 ma | 50 ns | 100 NA @ 175 V | -65°C〜175°C | 100mA | - | ||
![]() | 1SS367,H3F | 0.2000 | ![]() | 63 | 0.00000000 | 东芝半导体和存储 | - | 胶带和卷轴((tr) | 积极的 | 表面安装 | SC-76,SOD-323 | 1SS367 | 肖特基 | 南加州大学 | 下载 | rohs3符合条件 | (1 (无限) | Ear99 | 8541.10.0070 | 3,000 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 10 v | 500 mv @ 100 ma | 20 µA @ 10 V | 125°c (最大) | 100mA | 40pf @ 0v,1MHz | |||
![]() | 1SS394TE85LF | 0.3900 | ![]() | 5 | 0.00000000 | 东芝半导体和存储 | - | 胶带和卷轴((tr) | 积极的 | 表面安装 | TO-236-3,SC-59,SOT-23-3 | 1SS394 | 肖特基 | SC-59 | 下载 | Rohs符合条件 | (1 (无限) | Ear99 | 8541.10.0070 | 3,000 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 10 v | 500 mv @ 100 ma | 20 µA @ 10 V | 125°c (最大) | 100mA | 40pf @ 0v,1MHz | |||
![]() | HS247180R | - | ![]() | 1413 | 0.00000000 | Microsemi Corporation | - | 大部分 | 过时的 | 底盘安装 | 半粉 | 肖特基,反极性 | 半粉 | 下载 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 180 v | 860 MV @ 240 A | 8 ma @ 180 V | 240a | 6000pf @ 5V,1MHz | |||||
![]() | HS243100R | - | ![]() | 5723 | 0.00000000 | Microsemi Corporation | - | 大部分 | 过时的 | 底盘安装 | 半粉 | 肖特基,反极性 | 半粉 | 下载 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 100 v | 860 MV @ 240 A | 8 ma @ 100 V | 240a | 6400pf @ 5V,1MHz | |||||
![]() | HS18135R | - | ![]() | 4518 | 0.00000000 | Microsemi Corporation | - | 大部分 | 过时的 | 底盘安装 | 半粉 | 肖特基,反极性 | 半粉 | 下载 | (1 (无限) | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 35 v | 700 MV @ 180 A | 4 mA @ 35 V | 180a | 7500pf @ 5V,1MHz | ||||||
![]() | HS24040R | - | ![]() | 2775 | 0.00000000 | Microsemi Corporation | - | 大部分 | 过时的 | 底盘安装 | 半粉 | 肖特基,反极性 | 半粉 | 下载 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 40 V | 550 MV @ 240 A | 12 ma @ 40 V | 240a | 10500pf @ 5V,1MHz | |||||
dla40im800pc-trl | 4.4800 | ![]() | 352 | 0.00000000 | ixys | - | 胶带和卷轴((tr) | 积极的 | 表面安装 | TO-263-3,D²Pak(2引线 + TAB),TO-263AB | DLA40 | 标准 | TO-263AA | 下载 | rohs3符合条件 | 3(168)) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 800 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 800 v | 1.3 V @ 40 A | 10 µA @ 800 V | -55°C 〜175°C | 40a | 10pf @ 400V,1MHz | |||
DNA30E2200PA | 4.6400 | ![]() | 10 | 0.00000000 | ixys | - | 管子 | 积极的 | 通过洞 | TO-220-2 | DNA30E2200 | 标准 | TO-220AC | 下载 | rohs3符合条件 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 50 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 2200 v | 1.26 V @ 30 A | 40 µA @ 2200 V | -55°C 〜175°C | 30a | 7pf @ 700V,1MHz | |||
DNA30EM2200PC | - | ![]() | 7471 | 0.00000000 | ixys | - | 胶带和卷轴((tr) | 积极的 | 表面安装 | TO-263-3,D²Pak(2引线 + TAB),TO-263AB | DNA30EM2200 | 标准 | TO-263AA | 下载 | rohs3符合条件 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 800 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 2200 v | 1.26 V @ 30 A | 40 µA @ 2200 V | -55°C 〜175°C | 30a | 7pf @ 700V,1MHz | |||
DPF30I300PA | 4.2200 | ![]() | 37 | 0.00000000 | ixys | Hiperfred²™ | 管子 | 积极的 | 通过洞 | TO-220-2 | DPF30I300 | 标准 | TO-220AC | 下载 | rohs3符合条件 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 50 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 300 v | 1.17 V @ 30 A | 55 ns | 5 µA @ 300 V | -55°C 〜175°C | 30a | 42pf @ 150V,1MHz | ||
DSS16-0045AS-tub | - | ![]() | 2183 | 0.00000000 | ixys | - | 管子 | 在sic中停产 | 表面安装 | TO-263-3,D²Pak(2引线 + TAB),TO-263AB | DSS16 | 肖特基 | TO-263AA | - | rohs3符合条件 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 50 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 45 v | 670 mv @ 15 A | 500 µA @ 45 V | -55°C 〜175°C | 16a | - | |||
![]() | JANTXV1N4245 | 7.8900 | ![]() | 9407 | 0.00000000 | 微芯片技术 | 军事,MIL-PRF-19500/286 | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | a,轴向 | 1N4245 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 200 v | 1.3 V @ 3 A | 5 µs | 1 µA @ 200 V | -65°C〜175°C | 1a | - | |
![]() | JANTXV1N4249 | 8.0100 | ![]() | 9240 | 0.00000000 | 微芯片技术 | 军事,MIL-PRF-19500/286 | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | a,轴向 | 1N4249 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 1000 v | 1.3 V @ 3 A | 5 µs | 1 µA @ 1000 V | -65°C〜175°C | 1a | - | |
JANTXV1N5415US | - | ![]() | 1762年 | 0.00000000 | 微芯片技术 | 军事,MIL-PRF-19500/411 | 大部分 | 在sic中停产 | 表面安装 | SQ-MELF,E | 标准 | D-5B | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 50 V | 1.5 V @ 9 A | 150 ns | 1 µA @ 50 V | -65°C〜175°C | 3a | - | |||
![]() | JANTXV1N5416 | - | ![]() | 7390 | 0.00000000 | 微芯片技术 | 军事,MIL-PRF-19500/411 | 大部分 | 在sic中停产 | 通过洞 | B,轴向 | 标准 | B,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 100 v | 1.5 V @ 9 A | 150 ns | 1 µA @ 100 V | -65°C〜175°C | 3a | - | ||
JANTXV1N5614 | 8.8200 | ![]() | 1921年 | 0.00000000 | 微芯片技术 | 军事,MIL-PRF-19500/427 | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | a,轴向 | 1N5614 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 200 v | 1.3 V @ 3 A | 2 µs | 500 na @ 200 V | -65°C 〜200°C | 1a | - | ||
JANTXV1N5614US | 10.1550 | ![]() | 5942 | 0.00000000 | 微芯片技术 | 军事,MIL-PRF-19500/427 | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,a | 1N5614 | 标准 | D-5A | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 200 v | 1.3 V @ 3 A | 2 µs | 500 na @ 200 V | -65°C 〜200°C | 1a | - |
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