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参考图片 | 产品编号 | ((() | 数量 | ECAD | 可用数量 | (kg) | MFR | 系列 | 包裹 | 产品状态 | 宽容 | 工作温度 | 安装类型 | 包装 /案例 | 基本产品编号 | 技术 | 力量 -最大 | 供应商设备包 | 数据表 | Rohs状态 | (MSL) | 达到状态 | ECCN | htsus | 标准包 | 速度 | 电压-DC 反向((vr)(VR)) | 电压 -向前( -vf)(最大) @如果 | trr) | 电流 -反向泄漏 @ @ vr | 工作温度 -交界处 | 电流 -io(io) | 电容 @ vr,f | 电压-Zener(Nom)(nom)(vz) | ((ZZT)) |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() | 1N4776A | 33.0450 | ![]() | 8561 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -55°C〜100°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N4776 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 8.5 v | 200欧姆 | ||||||||||
![]() | 1N4779A | 265.5900 | ![]() | 8389 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -55°C〜100°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N4779 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 8.5 v | 200欧姆 | ||||||||||
![]() | 1N4781A | 33.0450 | ![]() | 9595 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -55°C〜100°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N4781 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 8.5 v | 100欧姆 | ||||||||||
![]() | 1N4782A | - | ![]() | 7715 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 在sic中停产 | ±5% | -55°C〜100°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 8.5 v | 100欧姆 | |||||||||||
![]() | 1N4784A | 265.5900 | ![]() | 9273 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -55°C〜100°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N4784 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 8.5 v | 100欧姆 | ||||||||||
![]() | 1N483 | 4.2150 | ![]() | 4089 | 0.00000000 | 微芯片技术 | * | 大部分 | 积极的 | 1N483 | - | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | ||||||||||||||||||
1N485 | 4.2150 | ![]() | 8197 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | do-204aa,do-7,轴向 | 1N485 | 标准 | do-7 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0070 | 1 | 小信号= <200ma(io(io),任何速度 | 180 v | 1 V @ 100 ma | 25 na @ 180 V | -65°C〜175°C | 100mA | - | ||||||||
![]() | 1N5416 | 6.5200 | ![]() | 4408 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | B,轴向 | 1N5416 | 标准 | B,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 100 v | 1.5 V @ 9 A | 150 ns | 1 µA @ 100 V | -65°C〜175°C | 3a | - | ||||||
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1N5420U | 11.1900 | ![]() | 6980 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,E | 1N5420 | 标准 | D-5B | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 600 v | 1.5 V @ 9 A | 400 ns | 1 µA @ 600 V | -65°C〜175°C | 3a | - | |||||||
![]() | 1N5538B | 5.4300 | ![]() | 2124 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5538 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 1.1 V @ 200 ma | 10 na @ 16.2 V | 18 V | 105欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5541B | 3.0750 | ![]() | 6955 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5541 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 1.1 V @ 200 ma | 10 na @ 19.8 V | 22 v | 108欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5543B | 3.0750 | ![]() | 2400 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5543 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 1.1 V @ 200 ma | 10 na @ 22.4 V | 25 v | 110欧姆 | ||||||||
1N5551US | 7.5000 | ![]() | 6402 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,E | 1N5551 | 标准 | D-5B | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 400 v | 1.2 V @ 9 A | 2 µs | 1 µA @ 400 V | -65°C〜175°C | 3a | - | |||||||
![]() | 1N5552 | 5.8400 | ![]() | 1047 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | B,轴向 | 1N5552 | 标准 | B,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 600 v | 1.2 V @ 9 A | 2 µs | 1 µA @ 600 V | -65°C〜175°C | 3a | - | ||||||
![]() | 1N5553US | 11.1900 | ![]() | 2143 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,b | 1N5553 | 标准 | B,平方米 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 800 v | 1.2 V @ 9 A | 2 µs | 1 µA @ 800 V | -65°C〜175°C | 3a | - | ||||||
1N5616 | 3.3200 | ![]() | 75 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | a,轴向 | 1N5616 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 400 v | 1.3 V @ 3 A | 2 µs | 500 NA @ 400 V | -65°C 〜200°C | 1a | - | |||||||
1N5616US | 7.0500 | ![]() | 7024 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,a | 1N5616 | 标准 | D-5A | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 400 v | 1.3 V @ 3 A | 2 µs | 500 NA @ 400 V | -65°C 〜200°C | 1a | - | |||||||
1N5617 | 4.6000 | ![]() | 901 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 通过洞 | a,轴向 | 1N5617 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 400 v | 1.6 V @ 3 A | 150 ns | 500 NA @ 400 V | -65°C〜175°C | 1a | 35pf @ 12V,1MHz | |||||||
1N5620U | 8.5050 | ![]() | 5580 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,a | 1N5620 | 标准 | D-5A | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 标准恢复> 500ns,> 200ma(io(io) | 800 v | 1.3 V @ 3 A | 2 µs | 500 NA @ 800 V | -65°C 〜200°C | 1a | - | |||||||
1N5621 | - | ![]() | 4240 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 在sic中停产 | 通过洞 | a,轴向 | 标准 | a,轴向 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 800 v | 1.6 V @ 3 A | 300 ns | 500 NA @ 800 V | -65°C〜175°C | 1a | 20pf @ 12v,1MHz | ||||||||
1N5621US | 8.3850 | ![]() | 1161 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | 表面安装 | SQ-MELF,a | 1N5621 | 标准 | D-5A | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0080 | 1 | 快速恢复= <500ns,> 200ma(io) | 800 v | 1.6 V @ 3 A | 300 ns | 500 NA @ 800 V | -65°C〜175°C | 1a | 20pf @ 12v,1MHz | |||||||
![]() | 1N5728D | 4.6800 | ![]() | 8138 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±1% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5728 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 3 µA @ 2 V | 4.7 v | 70欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5730C | 3.7200 | ![]() | 4980 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±1% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5730 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 3 µA @ 2 V | 5.6 v | 25欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5730D | 4.6800 | ![]() | 4755 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±1% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5730 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 3 µA @ 2 V | 5.6 v | 25欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5733B | 1.8600 | ![]() | 8784 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5733 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 2 µA @ 5 V | 7.5 v | 10欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5734B | - | ![]() | 7415 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 在sic中停产 | ±5% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5734 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 1 µA @ 5 V | 8.2 v | 15欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5735C | 3.7200 | ![]() | 2078 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±1% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5735 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 500 na @ 6 V | 9.1 v | 15欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5735D | 4.6800 | ![]() | 7533 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±1% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5735 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 500 na @ 6 V | 9.1 v | 15欧姆 | ||||||||
![]() | 1N5736B | 1.8600 | ![]() | 7696 | 0.00000000 | 微芯片技术 | - | 大部分 | 积极的 | ±5% | -65°C〜175°C | 通过洞 | DO-204AH,DO-35,轴向 | 1N5736 | 500兆 | do-35 | 下载 | Rohs不合规 | (1 (无限) | 到达不受影响 | Ear99 | 8541.10.0050 | 1 | 900 mv @ 10 ma | 200 na @ 7 V | 10 v | 20欧姆 |
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